







2025年3月20日,由深圳市美信檢測技術(shù)股份有限公司(以下簡稱“美信檢測”)主辦的“電子元器件失效分析技術(shù)沙龍”在深圳美信檢測圓滿舉行。此次活動聚焦于“電子產(chǎn)品失效”為核心議題,匯聚了行業(yè)內(nèi)的專家學(xué)者與企業(yè)代表,通過主題演講、案例分析及圓桌對話等多種豐富形式,深入探討了電子產(chǎn)品失效機理與解決方案。





前沿技術(shù)分享:破解失效難題的科學(xué)密鑰
活動特邀美信檢測半導(dǎo)體事業(yè)部失效分析項目組負(fù)責(zé)人游啟全、電子工藝方向失效分析工程師馮學(xué)亮擔(dān)任本次講師。兩位專家結(jié)合多年實戰(zhàn)經(jīng)驗,系統(tǒng)性解析了電子元器件及PCB/PCBA的典型失效模式與根因分析方法。
馮學(xué)亮
電子工藝方向 失效分析工程師



馮學(xué)亮老師專注于電子工藝相關(guān)失效問題的深度剖析,包括ENIG黑焊盤、沉錫板上錫不良、焊點疲勞開裂、CAF等工藝相關(guān)失效問題。他通過切片分析、電鏡觀察及熱成像技術(shù),成功解決了手機主板BGA焊點晶界斷裂、汽車油量表LED枝晶短路等疑難案例,這些成功案例不僅展現(xiàn)了美信檢測在焊接工藝評價、材料可靠性驗證等領(lǐng)域的深厚底蘊,更為企業(yè)解決類似問題提供了可借鑒的思路與方法。
游啟全
半導(dǎo)體事業(yè)部 失效分析工程師



游啟全老師則聚以集成電路、晶體管、阻容元件等核心器件為例,詳細(xì)闡述其失效機理,通過潮敏分層、燒毀、硫化腐蝕等典型案例,展示了失效分析流程與先進(jìn)設(shè)備應(yīng)用。例如,針對車載LED芯片開裂、攝像頭模組黑屏等復(fù)雜問題。利用高分辨率3D X光機、Thermal EMMI及FIB等設(shè)備,精準(zhǔn)定位微裂紋、開路缺陷等微觀失效點,結(jié)合電性與材料分析,快速鎖定故障根源。這一系列的失效手段為企業(yè)實現(xiàn)從“事后補救”到“事前預(yù)防”的質(zhì)控升級提供了有力支持。
以專業(yè)驅(qū)動創(chuàng)新,以服務(wù)創(chuàng)造價值







此次技術(shù)沙龍不僅為與會者提供了一個前沿技術(shù)交流平臺,更彰顯了美信檢測“誠信、專業(yè)、服務(wù)、團隊、共贏”的核心價值觀。未來,公司將持續(xù)深耕失效分析領(lǐng)域,致力于技術(shù)創(chuàng)新與標(biāo)準(zhǔn)化服務(wù),以專業(yè)實力助力企業(yè)提升產(chǎn)品可靠性,推動電子制造業(yè)高質(zhì)量發(fā)展。