印制板及其組件(PCB&PCBA)是電子產(chǎn)品的核心部件,PCB&PCBA的可靠性直接決定了電子產(chǎn)品的可靠性。為了保證和提高電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性,對(duì)失效進(jìn)行全面的理化分析,確認(rèn)失效的內(nèi)在機(jī)理,從而有針對(duì)性地提出改善措施。
電子元器件失效分析的目的是借助各種測(cè)試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失效機(jī)理,確認(rèn)最終的失效原因,提出改進(jìn)設(shè)計(jì)和制造工藝的建議,防止失效的重復(fù)出現(xiàn),提高元器件可靠性。
集成電路復(fù)雜度與性能要求的持續(xù)攀升,疊加設(shè)計(jì)、制造、封裝及應(yīng)用環(huán)節(jié)的潛在風(fēng)險(xiǎn),導(dǎo)致短路、開(kāi)路、漏電、燒毀、參數(shù)漂移等關(guān)鍵失效模式頻發(fā)。這不僅造成昂貴的器件報(bào)廢與系統(tǒng)宕機(jī),更常引發(fā)設(shè)計(jì)方、代工廠、封測(cè)廠與終端用戶間的責(zé)任爭(zhēng)議,帶來(lái)重大經(jīng)濟(jì)損失與信譽(yù)風(fēng)險(xiǎn)。
高分子材料性能要求持續(xù)提升,而客戶對(duì)高要求產(chǎn)品及工藝的理解差異,導(dǎo)致斷裂、開(kāi)裂、腐蝕、變色等典型失效頻發(fā),常引發(fā)供應(yīng)商與用戶間的責(zé)任糾紛及重大經(jīng)濟(jì)損失。
金屬構(gòu)件服役環(huán)境日益苛刻,對(duì)材料性能和結(jié)構(gòu)可靠性提出更高要求。然而,設(shè)計(jì)缺陷、材料瑕疵、制造偏差或不當(dāng)使用等因素,極易引發(fā)疲勞斷裂、應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂、氫脆、蠕變、磨損、過(guò)載變形等典型失效。
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原子力顯微鏡(AFM)

AFM 是以針尖與樣品之間的屬于原子級(jí)力場(chǎng)作用力,所以又被稱為原子力顯微鏡。

AFM 可適用于各種的材料及產(chǎn)品分析,如金屬材料、高分子聚合物等,并可以操作在大氣、真空、電性及液相等環(huán)境,進(jìn)行不同物性分析,所以AFM 最大的特點(diǎn)是其在空氣中或液體環(huán)境中都可以操作, 因此,AFM 在生物材料、晶體生長(zhǎng)、作用力的研究等方面有廣泛的應(yīng)用。

原子力顯微鏡(AFM)

| 項(xiàng)目概述

 

AFM 是以針尖與樣品之間的屬于原子級(jí)力場(chǎng)作用力,所以又被稱為原子力顯微鏡。AFM 可適用于各種的材料及產(chǎn)品分析,如金屬材料、高分子聚合物等,并可以操作在大氣、真空、電性及液相等環(huán)境,進(jìn)行不同物性分析,所以AFM 最大的特點(diǎn)是其在空氣中或液體環(huán)境中都可以操作, 因此,AFM 在生物材料、晶體生長(zhǎng)、作用力的研究等方面有廣泛的應(yīng)用。根據(jù)針尖與樣品材料的不同及針尖-樣品距離的不同,針尖與樣品之間的作用力可以是原子間斥力、范德瓦爾斯吸引力、彈性力、粘附力、磁力和靜電力以及針尖在掃描時(shí)產(chǎn)生的摩擦力。通過(guò)控制并檢測(cè)針尖與樣品之間的這些作用力,不僅可以高分辨率表征樣品表面形貌,還可分析與作用力相應(yīng)的表面性質(zhì):摩擦力顯微鏡可分析研究材料的摩擦系數(shù);磁力顯微鏡可研究樣品表面的磁疇分布,成為分析磁性材料的強(qiáng)有力工具;利用電力顯微鏡可分析樣品表面電勢(shì)、薄膜的介電常數(shù)和沉積電荷等。另外,AFM 還可對(duì)原子和分子進(jìn)行操縱、修飾和加工,并設(shè)計(jì)和創(chuàng)造出新的結(jié)構(gòu)和物質(zhì)。

 

 

| 測(cè)試目的

 

1、表面形貌:能夠直接觀測(cè)樣品的表面形態(tài)和粗糙度。

2、物理性質(zhì):如力學(xué)性質(zhì)、硬度、粘彈性等。

3、粗糙度參數(shù):包括Ra、Rq、Rz等。

4、顆粒度和孔結(jié)構(gòu):可以分析樣品的顆粒度、孔徑分布等。

5、壓縮楊氏模量:測(cè)量材料的彈性特性。

 

 

| 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

 

GB/T 31227

 

 

| 服務(wù)產(chǎn)品/領(lǐng)域

 

AFM是一種重要的納米級(jí)表征技術(shù),廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域;

在晶體生長(zhǎng)、作用力的研究等方面也有廣泛的應(yīng)用。

 

 

| 美信優(yōu)勢(shì)

 

1、專業(yè)團(tuán)隊(duì):擁有多名經(jīng)驗(yàn)豐富的檢測(cè)工程師和技術(shù)專家。

2、先進(jìn)設(shè)備:配備國(guó)際領(lǐng)先的檢測(cè)設(shè)備,確保檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

3、高效服務(wù):快速響應(yīng)客戶需求,可檢測(cè)適用各種材料,高效快速獲得真實(shí)準(zhǔn)確的掃描圖像。

4、權(quán)威認(rèn)證:實(shí)驗(yàn)室通過(guò)ISO/IEC 17025認(rèn)證,檢測(cè)報(bào)告具有國(guó)際公信力

 

常見(jiàn)問(wèn)題
  • 常規(guī)樣品要求?
    1. 樣品狀態(tài):可為粉末、塊體、薄膜樣品;
    2. 粉末樣品:常規(guī)測(cè)試項(xiàng)目樣品起伏一般不超過(guò)5微米,特殊測(cè)試項(xiàng)目樣品起伏一般不超過(guò)1um,提供20mg,液體不少于1ml;
    3. 粉末/液體樣品請(qǐng)務(wù)必備注好制樣條件,包括分散液,超聲時(shí)間及配制濃度;
    4. 薄膜或塊狀樣品尺寸要求:長(zhǎng)寬0.5-3cm之間,厚度0.1-1cm之間,表面粗糙度不超過(guò)5um,一定要標(biāo)明測(cè)試面! 塊狀樣品需要固定好,避免在寄送過(guò)程產(chǎn)生晃動(dòng)或摩擦影響測(cè)試結(jié)果!
    5. 測(cè)試PFM、KPFM、C-AFM、PeakForce TUNA的材料需要將樣品制備在導(dǎo)電基底上,基底大小符合塊狀樣品的尺寸要求,KPFM、C-AFM、PeakForce TUNA的樣品需要導(dǎo)電或至少為半導(dǎo)體;
    6. PFM,KPFM測(cè)試需要樣品表面十分平整,樣品粗糙度最好在10-200nm之間,粉末樣品測(cè)試很難測(cè)到較好結(jié)果,下單前請(qǐng)確保風(fēng)險(xiǎn)可接受。
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