印制板及其組件(PCB&PCBA)是電子產(chǎn)品的核心部件,PCB&PCBA的可靠性直接決定了電子產(chǎn)品的可靠性。為了保證和提高電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性,對(duì)失效進(jìn)行全面的理化分析,確認(rèn)失效的內(nèi)在機(jī)理,從而有針對(duì)性地提出改善措施。
電子元器件失效分析的目的是借助各種測(cè)試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失效機(jī)理,確認(rèn)最終的失效原因,提出改進(jìn)設(shè)計(jì)和制造工藝的建議,防止失效的重復(fù)出現(xiàn),提高元器件可靠性。
集成電路復(fù)雜度與性能要求的持續(xù)攀升,疊加設(shè)計(jì)、制造、封裝及應(yīng)用環(huán)節(jié)的潛在風(fēng)險(xiǎn),導(dǎo)致短路、開路、漏電、燒毀、參數(shù)漂移等關(guān)鍵失效模式頻發(fā)。這不僅造成昂貴的器件報(bào)廢與系統(tǒng)宕機(jī),更常引發(fā)設(shè)計(jì)方、代工廠、封測(cè)廠與終端用戶間的責(zé)任爭(zhēng)議,帶來(lái)重大經(jīng)濟(jì)損失與信譽(yù)風(fēng)險(xiǎn)。
高分子材料性能要求持續(xù)提升,而客戶對(duì)高要求產(chǎn)品及工藝的理解差異,導(dǎo)致斷裂、開裂、腐蝕、變色等典型失效頻發(fā),常引發(fā)供應(yīng)商與用戶間的責(zé)任糾紛及重大經(jīng)濟(jì)損失。
金屬構(gòu)件服役環(huán)境日益苛刻,對(duì)材料性能和結(jié)構(gòu)可靠性提出更高要求。然而,設(shè)計(jì)缺陷、材料瑕疵、制造偏差或不當(dāng)使用等因素,極易引發(fā)疲勞斷裂、應(yīng)力腐蝕開裂、氫脆、蠕變、磨損、過(guò)載變形等典型失效。
美信檢測(cè)以海量失效數(shù)據(jù)庫(kù)構(gòu)建技術(shù)優(yōu)勢(shì),全譜系案例、復(fù)雜場(chǎng)景方案、頭部企業(yè)合作及體系化知識(shí)產(chǎn)權(quán),各展其能。憑借百萬(wàn)級(jí)失效解析積累,精準(zhǔn)洞察本質(zhì),讓檢測(cè)報(bào)告為客戶質(zhì)量升級(jí)提供有力支撐,實(shí)現(xiàn)失效歸零。
實(shí)時(shí)更新美信檢測(cè)最新資訊,包括技術(shù)、展會(huì)、活動(dòng)等動(dòng)態(tài)。我們以專業(yè)檢測(cè)為基石,為客戶定制解決方案,從源頭把控質(zhì)量,助力客戶在市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中脫穎而出,實(shí)現(xiàn)商業(yè)成功。
美信檢測(cè)一家具有國(guó)家認(rèn)可資質(zhì)的商業(yè)第三方實(shí)驗(yàn)室 我們專注于為客戶提供檢測(cè)服務(wù)、技術(shù)咨詢服務(wù)和解決方案服務(wù),服務(wù)行業(yè)涉及電子制造、汽車電子、半導(dǎo)體、航空航天材料等領(lǐng)域。
美信檢測(cè)在深圳、蘇州和北京均建有實(shí)驗(yàn)基地,設(shè)立了多學(xué)科檢測(cè)和分析實(shí)驗(yàn)室。公司基于材料科學(xué)工程和電子可靠性工程打造工業(yè)醫(yī)院服務(wù)模式。
專業(yè)檢測(cè)網(wǎng)站,數(shù)據(jù)精準(zhǔn)洞察,為投資者筑牢信任基石

FPC焊盤脫落全案剖析:顯微分析揭示的焊接強(qiáng)度陷阱

發(fā)布時(shí)間: 2025-05-09 00:00
分享至:

作為線路板與電子元器件焊接裝聯(lián)的必要媒介,焊盤的焊接質(zhì)量是影響終端產(chǎn)品壽命與可靠性的重要因素,本文以FPC焊盤脫落為例,介紹焊盤脫落的失效分析方法。

某FPC組裝后返修過(guò)程中出現(xiàn)焊盤脫落問(wèn)題,現(xiàn)針對(duì)2pcs 焊盤脫落樣品及同批次FPC成品進(jìn)行測(cè)試分析,查找FPC焊盤脫落的原因。

1.外觀檢查

NG1、NG2樣品在QFN芯片相同角落位置發(fā)現(xiàn)焊盤脫落現(xiàn)象,其他三個(gè)角落位置焊盤未見明顯脫落現(xiàn)象,失效現(xiàn)象與委托方反饋信息一致。

圖片

圖1.焊盤脫落FPC外觀檢查典型照片

2.模擬驗(yàn)證

為了確認(rèn)FPC成品解焊過(guò)程中確實(shí)存在焊盤脫落異常,從FPC成品中隨機(jī)選取2pcs進(jìn)行解焊處理,結(jié)果發(fā)現(xiàn)樣品存在焊盤脫落異常(分別命名為樣品1#、樣品2#),結(jié)果如圖2所示。

樣品1#、2#在QFN芯片相同角落位置都發(fā)現(xiàn)焊盤脫落現(xiàn)象,焊盤脫落位置與失效樣品表現(xiàn)一致,故FPC成品解焊后確實(shí)存在焊盤脫落異常。


圖片


圖2.樣品1#、2#脫落焊盤外觀檢查照片


3.表面分析

 進(jìn)行形貌觀察與成分分析結(jié)果顯示,所有脫落焊盤脫開位置一致,斷口呈現(xiàn)受力變形特征。EDS測(cè)試結(jié)果顯示,斷口位置未發(fā)現(xiàn)明顯異常元素。

圖片

圖片

圖片

圖3.樣品1#脫落焊盤位置形貌觀察照片及成分測(cè)試結(jié)果


4.剖面分析

 為了確認(rèn)同批次FPC成品焊盤是否存在缺陷,從剩余的FPC成品中隨機(jī)選取2pcs樣品進(jìn)行切片分析,結(jié)果發(fā)現(xiàn)2pcs樣品(分別命名為成品1、成品2)焊盤存在斷開異常,結(jié)果如下:

圖片


圖4.成品FPC樣品切片位置示意圖


成品1:如圖5所示,切片后,一引腳焊盤(圖4黃框位置)明顯發(fā)現(xiàn)斷開異常,另一引腳焊點(diǎn)局部開裂,斷開界面吻合,呈現(xiàn)明顯的受力斷裂特征;斷開界面局部存在無(wú)潤(rùn)濕現(xiàn)象,界面潤(rùn)濕不良將導(dǎo)致該界面處焊接強(qiáng)度降低;焊盤斷口周圍銅箔完好,鎳層局部發(fā)現(xiàn)微裂紋現(xiàn)象。

圖片

圖片

圖片

圖5.成品1樣品切片后引腳焊點(diǎn)截面金相觀察照片及SEM+EDS分析結(jié)果


成品2:如圖6所示,切片后,圖4黃框位置引腳同樣發(fā)現(xiàn)斷開異常,斷開界面吻合,呈現(xiàn)明顯的受力斷裂特征;斷開界面局部存在無(wú)潤(rùn)濕現(xiàn)象,界面潤(rùn)濕不良將導(dǎo)致該界面處焊接強(qiáng)度降低;焊盤斷口周圍銅箔及鎳層完好,說(shuō)明焊盤斷開異常與焊盤鎳層微裂紋無(wú)直接相關(guān)性。 

圖片

圖6.成品2樣品切片后引腳焊點(diǎn)截面金相觀察及SEM形貌觀察照片


 以上結(jié)果可知,焊盤斷開原因?yàn)楹更c(diǎn)焊接成型后,QFN焊點(diǎn)受到外力影響,導(dǎo)致焊點(diǎn)沿焊接強(qiáng)度薄弱位置(斷口界面潤(rùn)濕不良位置)斷開,最終導(dǎo)致焊盤被連帶拉斷。


5.分析與討論

 本案失效背景為:FPC組裝后返修過(guò)程中出現(xiàn)焊盤脫落問(wèn)題。

對(duì)焊盤脫落樣品進(jìn)行外觀檢查發(fā)現(xiàn),焊盤脫落都發(fā)生在QFN芯片相同角落位置,其他三個(gè)角落位置焊盤未見明顯焊盤脫落現(xiàn)象。

為了確認(rèn)QFN器件加熱解焊過(guò)程中,確實(shí)存在焊盤脫落異常,對(duì)同批次FPC成品借助加熱臺(tái)(設(shè)定250℃)進(jìn)行解焊操作。結(jié)果顯示,個(gè)別FPC成品解焊過(guò)程中,確實(shí)存在焊盤脫落現(xiàn)象。

對(duì)解焊后焊盤脫落樣品進(jìn)行形貌觀察及成分分析。結(jié)果顯示,所有脫落焊盤脫開位置一致,斷口呈現(xiàn)受力變形特征,斷開位置未發(fā)現(xiàn)明顯異常元素。

為了確認(rèn)同批次FPC成品焊盤是否存在缺陷,對(duì)成品FPC上QFN引腳焊點(diǎn)進(jìn)行切片分析,結(jié)果顯示:

 ①多個(gè)樣品QFN相同角落位置焊點(diǎn)都發(fā)現(xiàn)斷開異常,斷開界面吻合,斷開位置焊盤被拉斷,呈現(xiàn)明顯的受力斷裂特征;

②斷開界面局部位置存在無(wú)潤(rùn)濕現(xiàn)象,界面潤(rùn)濕不良將導(dǎo)致界面焊接強(qiáng)度降低;

③焊盤斷口周圍銅箔完好,個(gè)別脫落焊盤鎳層局部發(fā)現(xiàn)微裂紋現(xiàn)象,鎳層微裂紋與焊盤脫落無(wú)明顯相關(guān)性。

 綜上所述,F(xiàn)PC焊盤斷開過(guò)程如圖7所示,QFN器件回流焊接后,引腳焊點(diǎn)局部存在潤(rùn)濕不良現(xiàn)象,導(dǎo)致界面焊接強(qiáng)度降低,在較大外力作用下,焊點(diǎn)沿界面焊接強(qiáng)度薄弱處開始開裂,最終導(dǎo)致焊盤被拉斷失效。

圖片

圖7.QFN器件引腳焊點(diǎn)焊盤斷開過(guò)程示意圖

6.總結(jié)與建議

總結(jié):FPC焊盤脫落的原因?yàn)榛亓骱附雍螅更c(diǎn)受到較大外力影響導(dǎo)致焊點(diǎn)沿焊接強(qiáng)度薄弱位置開裂,最終導(dǎo)致焊盤被連帶拉斷。

建議:焊接完成后排查各個(gè)工站樣品受力情況,避免較大外力作用于產(chǎn)品表面。


相關(guān)案例
PCBA清洗后失效!同一個(gè)位置,同樣的腐蝕,為何偏偏是它?
在電子制造的PCBA加工環(huán)節(jié)中,清洗、涂覆是提升產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵工序,但有時(shí)卻會(huì)成為失效的 “導(dǎo)火索”。
看似正常的PCBA,為何無(wú)法開機(jī)?
近期,某智能終端產(chǎn)品在客戶端反饋:多片PCBA出現(xiàn)不開機(jī)故障,涉及點(diǎn)膠與未點(diǎn)膠兩種工藝狀態(tài)。失效現(xiàn)象一致:上電后無(wú)法正常啟動(dòng),嚴(yán)重影響產(chǎn)品交付與客戶體驗(yàn)。
技術(shù)專欄 | BGA焊點(diǎn)空洞:不容忽視的工藝缺陷!
球柵陣列封裝(BGA)是一種集成電路表面黏著技術(shù),通過(guò)底部錫球陣列替代傳統(tǒng)引腳,應(yīng)用于微處理器、通信芯片及消費(fèi)電子產(chǎn)品的永久固定。該封裝由芯片、封裝基板和焊球陣列組成,連接方式包括引線鍵合與倒裝焊。相比雙列直插封裝,BGA能容納更多接腳,縮短導(dǎo)線長(zhǎng)度以提升高速性能,并具備低電感、高導(dǎo)熱性優(yōu)勢(shì)。
潮濕是電子產(chǎn)品的“隱形殺手”?一起PCBA燒毀“病例”
在電子制造領(lǐng)域,產(chǎn)品在倉(cāng)儲(chǔ)周轉(zhuǎn)后突發(fā)上電失效是常見挑戰(zhàn),這類失效往往原因隱蔽,常規(guī)檢測(cè)難以定位,仿佛存在“隱形殺手”。
HUB芯片莫名失效,元兇竟是靜電?
我們常面臨一個(gè)典型困境:芯片外觀完好,卻功能盡失。這背后究竟是芯片自身存在設(shè)計(jì)或工藝的先天缺陷,還是在生產(chǎn)、運(yùn)輸或使用中受到了外部應(yīng)力的不可逆損傷?
紅磷阻燃劑:電子制造的合規(guī)挑戰(zhàn)與應(yīng)對(duì)指南
在電子制造領(lǐng)域,阻燃材料的選擇一直是在性能、成本與安全環(huán)保之間尋求平衡的重要課題。紅磷作為一種常見的無(wú)鹵阻燃劑,因其高效阻燃和成本優(yōu)勢(shì)被廣泛應(yīng)用,卻也因其潛在的化學(xué)風(fēng)險(xiǎn)受到日益嚴(yán)格的管控。今天,我們就來(lái)科學(xué)解析紅磷在電子制造中的應(yīng)用特性、風(fēng)險(xiǎn)來(lái)源,以及行業(yè)如何對(duì)其進(jìn)行有效檢測(cè)與管控。
在線客服
業(yè)務(wù)咨詢
免費(fèi)咨詢
報(bào)告查詢
回到頂部
聯(lián)系我們
  • *姓名:
  • *聯(lián)系電話:
  • *郵箱:
  • *公司/單位/學(xué)校:
  • *所在地區(qū):
  • *留言信息: