







某產(chǎn)品在經(jīng)過老化測試后,發(fā)現(xiàn)待機工作電流異常增大。經(jīng)詳細分析,確定問題源于C6電容(C6電容指電路板上特定位置或功能的電容器)出現(xiàn)異常。為了全面而深入地探究C6電容失效的根本原因,我們采用了一系列專業(yè)且系統(tǒng)的檢測手段來開展失效分析工作。
1.外觀檢查&X-ray透視 失效電容電容表面未發(fā)現(xiàn)明顯裂紋、破損等異常現(xiàn)象,排除電容受到外力撞擊等因素導致的失效。使用X-ray對失效電容進行透視檢察,未發(fā)現(xiàn)明顯結(jié)構(gòu)異常。 2.電參數(shù)測試 失效電容阻值均小于2kΩ,遠小于未使用電容阻值,說明失效電容存在明顯漏電現(xiàn)象,測試結(jié)果表1所示。
3.Thermal EMMI熱點定位 發(fā)現(xiàn)失效電容內(nèi)部均存在明顯的異常亮點,亮點主要集中在靠近電容端電極一側(cè)。 4.切片分析 (1)NG1電容在熱點定位顯現(xiàn)異常亮點的位置有明顯裂紋。進一步研磨至內(nèi)電極顯露,發(fā)現(xiàn)裂紋穿過內(nèi)電極交叉區(qū)域,導致內(nèi)電極上下層之間出現(xiàn)短路或低阻通道。對比不同位置切片形貌,隨著逐步研磨至電容內(nèi)部,裂紋逐漸變小,說明裂紋擴展起源點應靠近電容外部。此外,微觀形貌觀察裂紋較細,且未見熔融燒毀現(xiàn)象,推測應屬于機械應力裂紋。 (2)NG2、NG3均在電容底部一側(cè)發(fā)現(xiàn)有裂紋,并延伸至內(nèi)電極區(qū)域?qū)е码娙輰娱g漏電短路,位置與熱點定位出現(xiàn)異常亮點對應。裂紋起源于底面端電極,其角度與底面角度接近45°,屬于典型的機械應力裂紋形貌。
5.物料驗證 按照規(guī)格書進行三點彎曲試驗,對實驗后電容外觀與電性進行確認,未發(fā)現(xiàn)明顯異常。對#1、#2電容進行切片分析,均未發(fā)現(xiàn)有明顯裂紋、介質(zhì)層空洞等缺陷。因此,該物料可滿足其規(guī)格書要求。 6.模擬實驗 為確認失效電容內(nèi)部裂紋是否屬于機械應力裂紋,對#3、#4電容繼續(xù)進行三點彎曲模擬試驗,試驗后對電容進行切片分析。 切片結(jié)果顯示:基板彎曲量為4mm時,#3、#4電容內(nèi)部均出現(xiàn)明顯的裂紋,其位置起源于端電極位置并與焊接面呈45°,與失效電容內(nèi)部裂紋形貌特征基本一致。因此推斷失效電容受到了較大的外部應力,進而在內(nèi)部出現(xiàn)裂紋。 7.分析與總結(jié) 分析:電容內(nèi)部出現(xiàn)機械應力裂紋的原因為:由于電容瓷體是由硬而脆的陶瓷材料制成,這種材料對單板變形產(chǎn)生的應力比較敏感。當電容受到額外的應力作用時,裂紋會在應力集中點產(chǎn)生,如圖15所示,如果器件受到向上的應力,底部焊端和焊料的交接處為應力集中點,這個位置就成為薄弱環(huán)節(jié),容易產(chǎn)生與焊端呈45°或“Y”字型的裂紋,反之亦然。 總結(jié):電容的失效主要原因是受到外部應力產(chǎn)生延伸至內(nèi)電極交叉區(qū)域的裂紋,形成漏電通道導致阻值下降。 8.建議 排查電容組裝、測試等過程中的外部應力來源。





